硬性罗氏线圈RS-28-150KA带宽2MHz，适用于慢/快速变化测试信号，可与本公司HF10精密阵列衰减器扩展配合使用，拓宽罗氏线圈倍率，HF10也可与各式示波器探头配合使用。RS系列罗氏线圈，适用频带广泛，所采样波形不畸变，适合未知源的采样和还原；盲测。与国外线圈每一个型号只能测试一种波形相比，RS系列的性价比更高，采样的雷电波不受波形多变的影响，可信度更高
发布日期：2024-01-02
一、硬性罗氏线圈RS-28-150KA带宽2MHz产品概述
优测罗氏线圈RS-28-150KA具有高性价比、频带广泛、不失真不变形的特点，可与各式示波器配合使用，也可与本公司HF10精密阵列衰减器扩展配合使用，拓宽罗氏线圈倍率。
二、硬性罗氏线圈RS-28-150KA带宽2MHz技术参数
| 灵敏度(V/A) | 0.001(1:1000) |
| 脉冲电流 | 150kA (8/20μs)&15kA (10/350μs) |
| 有效值电流低至 | 1kA |
| 安秒积(A•s) | 8 |
| 低频截止点(3dB) | 10Hz |
| 高频截止点(3dB) | 2MHz |
| 使用温度 | 0-65℃ |
| 重量(kg) | 0.75 |
| 接口 | BNC |
| 孔径 | 28mm |
三、设备连接
1.将被测导线穿入罗氏线圈中心孔。
2.连接阻抗匹配器，也可不装，不影响测试结果。
3.将BNC测试线将线圈与示波器连接一体。
四、产品应用
SiC MOSFET 的浪涌可靠性测试研究：浪涌可靠性是器件可靠性指标的一种，是指MOSFET承受浪涌电流的能力。浪涌电流是指电源接通瞬间或是在电路出现异常情况下产生的远大于稳态电流的峰值电流或过载电流。
由于电容电感等非线性器件的充放电，很多电子电路在工作中会产生浪涌电流，尤其是在电路开启的瞬间，而浪涌电流会对器件本身造成损伤，最终影响电路的正常工作，因此用户在进行电路设计选择器件之前，需要知道器件可承受的浪涌电流峰值，并依此设计电路参数使器件尽可能工作在安全区域。
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