频率特性扫频仪

简要描述：

牛顿频率特性扫频仪（FRA）是一种高精度测量仪器，用于在频域中分析组件，电路和系統（称为被测设备或DUT）。

发布日期：2024-01-02

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详细介绍

一、频率特性扫频仪概述

什么是频率响应分析仪? 频率响应分析仪（FRA）是一种高精度测量仪器，用于在频域中分析组件，电路和系統（称为被测设备或DUT）。牛顿频率响应分析仪通常会生成一个正弦值号，并将其注入被测组件，电路或系统中。使用FRA上的一个输入通道（通常是通道1）在注入点测量该值号，注入信号通过被测设备，并且频率响应分析仪在第二个参考点同时测量同一信号-通常是使用通道2的系统输出，使用正弦波可以确定系统的频域行为（频率响应）。

PSM3750频率响应分析仪.jpg

二、频率特性扫频仪应用范围
对于任何硬件工程师来说，频率响应分析仪都应被视为与示波器一样重要，它是一种主要的设计工具，它将在任何硬件工程师的测试台上发挥重要作用。重要的是要记住，N4L FRA是精密仪器，具有经过校准的输入并提供通常仅在计量学中才能看到的测量精度。
FRA可用于表征输入滤波器电路的增益/相位响应，确定晶体管的AC信号行为，确定伺服电机控制系统是否稳定，使工程师能够确定设备的传递函数或子系统。这些只是频率响应分析仪可以应用的成千上万种应用中的几种。

频率响应分析仪(1).png

频率响应分析仪.png

三、技术规格

型号	SFRA45	PSM1700	PSM1735	PSM3750
基本精度	0.02dB	0.02dB	0.01dB	0.01dB
相位精度	0.025°	0.02°	0.02°	0.05°
频率范围	5Hz~45MHz	10uHz~1MHz	10uHz~35MHz	10uHz~50MHz
测量	实时DFT	实时DFT	实时DFT	实时DFT

四、其他产品

SIGLENT SDG6000X系列脉冲/任意波形发生器，输出频率500 MHz，具备2.4GSa/s采样率和16bit垂直分辨率的优异采样系统指标，在传统的DDS技术基础上，采用了创新的TrueArb和EasyPulse技术，克服了DDS技术的先天缺陷，能够为用户提供高保真、低抖动的高速任意波和脉冲信号。

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