全新SNA5000X-E系列矢量网络分析仪具备9 kHz至26.5 GHz的测量范围、117 dB动态范围及智能化操作体验,支持S参数测量、差分(平衡)测量、接收机测量、时域分析、TDR、带宽分析、阻抗转换、端口匹配、去嵌功能、频谱分析功能等,起价仅为39880元,为研发团队、教育实验室及生产线提供高性价比的测试工具,助力客户高效完成射频器件验证与常规高频测试任务。
1、宽频段高动态范围,满足精密器件测试需求
SNA5000X-E支持9 kHz~26.5 GHz连续频率扫描,其动态范围可达117 dB,结合0.05 dB幅度分辨率与1 Hz频率分辨率,能精准捕捉微弱信号,满足高Q值滤波器等精密器件的严苛测试需求。
2、多维度功能集成,应对多元行业挑战
SNA5000X-E矢量网络分析仪通过集成多项实用功能,帮助用户高效应对不同行业的测试挑战。
(1)便捷地消除夹具效应
在微波射频测试中,夹具引入的误差往往会影响测量精度。SNA5000X-E可通过多项功能系统性解决夹具误差难题:
--端口延伸:当被测器件距离较远或需通过线缆连接时,输入线缆参数(如长度、损耗),即可将测量参考点延伸至目标位置,自动补偿线缆带来的延迟与损耗误差。
--去嵌入功能:通过导入夹具的电气模型(S参数),从测量结果中反向剥离夹具的插损、反射等影响,直接呈现被测器件的真实性能。
--阻抗转换与匹配:支持端口阻抗灵活调整,适配不同接口标准的夹具,进一步减少阻抗失配带来的干扰。
这些功能可覆盖远程测试、复杂夹具校准等多种场景,确保测量数据真实可靠。
(2)时域分析功能
随着数字系统信号处理速度的提升,在时域和频域内快速、准确测量和分析互连器件性能,已成为保障系统性能的关键。
SNA5000X-E具备时域分析功能(TDA),能对器件的时域特性进行分析。时域反射计(TDR)功能可进行故障点定位,还可以方便地消除部分特定类型的失配对频域测量的影响,得到排除故障后的预期频域特性,便于分析故障对器件特性的影响。
TDA功能
TDR功能
SNA5000X-E还搭载了眼图功能,为需要对高速信号进行时域分析、高速信号完整性分析的客户节省了大量成本和时间。
眼图功能
3、智能化操作,让效率与精度并存
SNA5000X-E系列具备12.1英寸触摸屏,支持多窗口显示,工程师可同时观察多个S参数,数据对比一目了然。同时,SNA5000X-E也支持包括群时延、史密斯图等多种数据显示格式,支持高频测量与滤波器特性一键分析,快速获取插入损耗、带宽等关键指标,还支持公式输入功能,让每一次测试都更便捷。
此外,其远程控制接口(SCPI指令、WebServer)深度适配自动化产线需求。用户在远程实现参数配置、数据采集与报告生成的全程自动化,显著提升产能一致性。
4、回归基础测试本身,拥抱更高性价比
SNA5000X-E具备优异的测试测量性能,并具有智能化操作,是一款高效、可靠的矢量网络分析仪,可为工程师、研发团队及生产线提供从研发验证到批量质检的一站式解决方案。
型号 | SNA5000X-E | SNA5000X | SNA5000A |
频率 | 9 kHz-3/6.5/8.5 GHz 100 kHz- 14/20/26.5 GHz | 9 kHz-4.5/8.5 GHz | 100 kHz- 13.5/26.5 GHz |
端口数 | 2 | 2/4 | 2 |
动态 范围 | 117 dB | 125 dB | 125 dB |
输出 功率 | -40dBm~+10dBm | -55dBm~+10dBm | -55dBm~+10dBm |
S参数 测量 | √ | √ | √ |
差分 测量 | √ | √ | √ |
接收机 测量 | √ | √ | √ |
时域 分析 | √ | √ | √ |
TDR | √ | √ | √ |
带宽 分析 | √ | √ | √ |
阻抗 转换 | √ | √ | √ |
端口 匹配 | √ | √ | √ |
去嵌 | √ | √ | √ |
频谱 分析 | √ | √ | √ |
极限 测试 | √ | √ | √ |
纹波 测试 | √ | √ | √ |
频偏 功能 | √ | √ | √ |
性能 自测试 | √ | √ | √ |
高性能 参考源 | √ | √ | √ |
标量 混频 测量 | × | √ | √ |
矢量 混频 测量 | × | √ | √ |
增益 压缩 测量 | × | √ | √ |
脉冲 测试 | × | √ | √ |
材料 测试 | × | √ | √ |