一、概述

日本岩崎BH分析仪，软磁材料测试仪SY-8219/SY-8218 磁特性的磁通密度B（以T为单位），磁场强度H（为A/m为单位）采用普遍的X-Y轴，这里被描述的曲线称为B-H曲线。作为测量B-H曲线的方法，有直流的评估方法和交流的评估方法。

二、测试方法

Iwatsu的BH分析仪采用CROSS-POWER方法（IEC62044-3），可实现精确，高精度的测量，在频谱上嵌入min小化的相位误差积分，电流检测电阻和检测电路补偿，幅度和相位补偿。

半导体曲线图示仪 CS3100/3200/3300（峰值电压3000V，峰值电流1000A）, CS5000系列（峰值电压5000V，峰值电流1000A），CS10000系列（峰值电压10KV，峰值电流8000A），适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号，采用电路图模式显示内部的配线状态，可通过确认实际波形，适时调整脉宽和测试点。具有能确认实际印加电流/电压波形的Wave模式，可以像示波器一样通过观测模块上实际印加的波形 （电流、电压）来确定脉宽和实际测试点 （MEASUREMENT POINT），可通过确认实际波形，适时调整脉宽和测试点，避免了示波器的探棒影响，可确认到实时的异常信号，可非常容易地确认到模块发热等引起的振荡等热异常情况。

隔离探针在通过光学隔离隔离输入/输出端子的系统中，在高电压环境下以高分辨率和安全方式执行波形测量有助于高压环境测试的安全性使用差分探头提高测量质量，非常有效地测量抗噪性，支持各种物体，如雷击浪涌和充电测试等，测量远点（开关，运输设备等），分析在远处发生多次异常操作时的故障因素，（隔离单元可以设置在每个地方，总共多达4套）

三、特点

1、实现稳定高精度测量采用标准的校准电阻，压粉铁芯等的铁损极为小的材料也有可能稳定并高精度测量。

2、采集的波形资料，本产品以8192点周速率采集的波形数据，是本公司比之过去的16倍，能够高精度地测量矫顽磁力和剩余磁通密度等。

3、标准配置作业靠近脉冲励磁可选择性地在正弦波励磁加上标准装备脉冲励磁（可达1MHz、50%占空比）。

4、配置可比较参数的设置能够比较不同测量条件下同一产品的的B-H曲线。

5、装载两种类型的游标显示任意点的测量值、导磁率用可能十字和倾斜的两种光标。一般的十字外加“倾斜游标"是只合起B，B-H曲线的任意点的导磁率测量就是接受客户建议进行功能优化的，为测试提供方便。

四、铁损是磁性材料本身丢失的电能，大致分为下面3类

1、磁滞损耗

2、涡流损耗

3、剩余损耗

磁滞损耗是指铁磁材料作为磁介质，在一定励磁磁场下产生的固有损耗；（在电能转换磁能过程中所产生的损耗）；涡流损耗是指磁通发生交变时，铁芯产生感应电动势进而产生感应电流，感应电流呈旋涡状，称之为涡流；感应电流在铁芯电阻上产生的损耗就是涡流损耗；剩余损耗是指除磁滞损耗和涡流损耗以外的损耗，由于所占比重较小，也可忽略不计。